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CDM0021AF- -会聚处理电路
发布日期:2013-1-3 11:16:38 作者: 出处: 浏览:365 人次 【

概述:CD0021AF是整个会聚电路的核心。它采用先锋公司专为投影产品开发的第二代全数字处理会聚校正控制集成电路CM0021AF。它核心部件为一个内置的数字信号处理器(DSP),它利用有限个特征点的会聚数据,通过特定的数学算法得到对整个屏幕的会聚调整数据最后输出。该IC采用100脚塑料QFP封装结构,内置粗调及细调会聚校正所使用的各种波形发生器、动态聚焦及锯齿波发生D/A转换器、数字信号处理器、I2C总线接口、水平/垂直控制电路、PWM波形及时钟控制电路等。该芯片具有调整精度高(16位)、调整速度快、可自动调整、支持多种扫描格式(行频范围:15.5KHz~48KHz)等。

                                                     在TCL**机型上测定

脚号
名称
功能
脚号
名称
功能
1
XTEST1
测试
51
BOUT
测试图蓝输出
2
XTEST2
测试
52
YMOUT
测试图亮输出
3
VDD11
内部逻辑供电
53
VDD13
内部逻辑供电
4
VSS1
接地
54
VSS5
接地
5
XWC
EEPROM写保护控制
55
YSOUT
测试图亮输出
6
SDAM
EEPROM数据
56
RIN
外部测试图红输入
7
SCLM
EEPROM时钟
57
GIN
外部测试图绿输入
8
XSTOP
CPU停止,
58
BIN
外部测试图蓝输入
9
XACKM
CPU应答
59
YMIN
外部测试图亮输入
10
XBUSY
CPU忙
60
YSIN
外部测试图亮输入
11
XIICRES
CPU对IIC复位
61
BCLK
外DAC位时钟
12
XMUTE
CPU静止模式
62
WCLK1
外DAC字时钟1
13
XRAMCLR
CPU对RAM清零
63
WCLK2
外DAC字时钟2
14
XESET
CPU复位
64
RVOUT1
RV输出1
15
VSS2
接地
65
VSS6
接地
16
VDD12
内部逻辑供电
66
VDD14
内部逻辑供电
17
XOFDET
会聚调整数据溢出
67
GVOUT1
GV输出1
18
SDAS
CPU数据
68
BVOUT1
BV输出1
19
SCLS
CPU时钟
69
RHOUT1
RH输出1
20
VBLKOUT1
场消隐信号输出1
70
GHOUT1
GH输出1
21
VBLKOUT2
场消隐信号输出2
71
BHOUT1
BH输出1
22
VBLKOUT3
场消隐信号输出3
72
RVOUT2
RV输出2
23
VBLKOUT4
场消隐信号输出4
73
GVOUT2
GV输出2
24
HBLKOUT
行消隐信号输出
74
BVOUT2
BV输出2
25
PWM1
脉宽调制输出1
75
RHOUT2
RH输出2
26
PWM2
脉宽调制输出2
76
GHOUT2
GH输出2
27
CKOUT
系统时钟输出
77
BHOUT2
BH输出2
28
VDDE1
I/O口供电
78
VDDE2
I/O口供电
29
VSS3
接地
79
VSS7
接地
30
VBLKIN
场消隐脉冲输入
80
TEST1
测试
31
ODEVSEL
奇/偶场选择
81
DAVDD1
DAC1供电
32
ODEVOUT
奇/偶场输出
82
VRN1
IC地与DAC地
33
ODEVIN
奇/偶场输入
83
VRP1
IC地与DAC地
34
XTEST3
测试
84
AOUT1
DAC1输出
35
E0
器件地址0
85
SG1
IC地与DAC地
36
VVSS
VCO地
86
DAVSS1
DAC1接地
37
HBLKIN
行消隐信号输入
87
 
 
38
E1
器件地址1
88
DAVDD2
DAC2供电
39
ROUT
测试图红输出
89
VRN2
IC地与DAC地
40
VSS4
接地
90
VRP2
IC地与DAC地
41
EXCKIN
外VCO输入
91
AOUT2
DAC2输出
42
EXCKSEL
VCO频率范围选择
92
SG2
IC地与DAC地
43
VCOSEL
外部VCO选择
93
DAVSS2
DAC2地
44
GOUT
测试图绿输出
94
 
 
45
VVDD
VCO供电
95
XTEST5
测试
46
XTEST4
测试
96
XTEST6
测试
47
VCOIN
VCO控制电压输入
97
TEST2
测试
48
PDOUT
VCO相位比较输出
98
TEST3
测试
49
E2
器件地址2
99
XTEST7
测试
50
DIVOUT
PLL分频输出
100
TEST4
测试

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